薄膜厚度测试仪

薄膜厚度测试仪 塑料薄膜/薄片自动测厚仪  型号DPCHY-CA
适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
自动进样
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计
显示大值、小值、平均值和统计偏差
可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
标准接触面积、测量压力（非标可选）
显示大值、小值、平均值和统计偏差
标准量块标定
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
薄膜厚度测试仪器技术指标
测量范围：0～2mm；0～6mm，12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0～1000mm
进样速度：0.1～99.9mm/s
电　　源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
净　　重：32kg

可见分光光度计/分光光度计   型号:DP-WFJ7200/7200
仪器型号    DP-WFJ7200/7200
光学系统   单光束，1200条/毫米衍射光栅
波长范围   325-1000nm
波长精度   ±2nm
波长重复性   1nm
光度范围   0-125%T, -0.097-1.999A, 0-1999C(0-1999F)
光度精度   ±0.8%T
杂散光     ≤0.5%T在360nm处
带宽       5nm
稳定性    ±0.004A/h在500nm处
显示       LED数码管
数据输出   串行口
打印机接口   并行口
外形尺寸   470×400×140（mm）
重量       9.5kg

表面式温度传感器 温度传感器  DP-GWP200-M

静态磁滞回线测量仪 回线测量仪 型号：DP-TF-CIA
采用静态法测量铁磁材料的特性参数。适合教学。
特点：样品外置，方便更换比较。具有电脑接口；功能齐备的多媒体教学演示和数据处理软件，方便教师开设实验。
1.磁化电流: 0 - ±3A
2.线圈匝数 > 40
3.样品外置，方便更换。
4.设有过热保护装置。
5.可以描绘 磁滞回线、初始磁化曲线、基本磁化曲线 等
6.内含微处理器，程控放大器,
7.通过串口与计算机连接，实时记录数据和曲线；
8.软件功能丰富,含原理演示、图形记录、数据处理等。
9.程控放大倍数：1 – 1000 
10.磁化电流：0 – 3A；
11.测量精度：12位

变温霍尔效应实验仪 型号：DP-HT-648
霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-400K温度范围内对霍尔系数和电导率的联合测量，进行半导体导电机制及散射机制的研究，并可确定半导体的一些基本参数，如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。        
主要技术指标
1．电磁铁      0-300mT连续可调
2. 励磁电源     0-5A连续可调  可自动换向 稳定性﹤±0.1%
3. 数字特斯拉计  0-2000mT  三位半数字显示 分辨率0.001
4. 恒流源输出   1mA       稳定性±0.1%
5. 数据采集系统霍尔电压测量小分辨率1uV
6. 温度变化测量范围    80-400K
7. 整套仪器由电磁铁系统、电源控制系统机箱、测量系统主机、恒温器四部分组成
8. 探头样品采用单晶锗片